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OMQ322拼接一鍵式光學測量儀
拼接一鍵式光學測量儀手機外殼缺陷檢測方法,該方法包括如下步驟:(1)獲取待檢測手機外殼圖像并進行預處理;(2)將預處理后的圖像輸入至預先訓練好的尺寸檢測模型進行尺寸檢測。其中,缺陷檢測模型為基于深度學習的深度網絡,包括依次級聯而成的特征提取網絡以及分類器與回歸器網絡,所述的特征提取網絡對預處理的圖像進行特征提取得到特征圖像。
時間:
2020-09-03
型號:
OMQ322
廠商性質:
生產廠家
瀏覽量:
463
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